Vom 18. bis 21. November 2025 präsentiert Omron auf der Productronica, der Fachmesse für Elektronikentwicklung und -fertigung, seine neuen Lösungen im Bereich der automatisierten Inspektionstechnologie. Besucher können erleben, wie die neuesten SPI-, AOI- und AXI-Inspektionssysteme von Omron dank KI-gestützter Analyse eine fortschrittliche Fehlererkennung ermöglichen und nahtlos in eine komplette Automatisierungslösung integriert werden können, die auf der eigenen Technologie von Omron basiert.
Von Steuerung und Bewegung über Sensorik bis hin zu Sicherheit und leistungsstarker Inspektionstechnologie sind die Lösungen von Omron im Gegensatz zu Standalone-Inspektionssystemen von Grund auf mit Automatisierungskomponenten von Omron ausgestattet. Hersteller profitieren so von einer vollständig integrierten, flexiblen und vernetzten Plattform, die die Produktion verbessert, Ausfallzeiten minimiert und eine hundertprozentige Qualitätskontrolle ermöglicht.
Omron auf der Productronica 2025:
KI-gestützte Fehlererkennung mit fortschrittlichen Algorithmen, die lernen und sich anpassen und eine herausragende Genauigkeit bei der SMT-, Elektronik- sowie Halbleiterinspektion bieten.
End-to-End-Automatisierungsintegration mit fortschrittlichen Inspektionssystemen, die mit Omrons eigener SPS-, Bewegungs-, Sicherheits-, Bildverarbeitungs- und Sensortechnologie aufgebaut sind und eine nahtlose Konnektivität über Produktionslinien hinweg gewährleisten.
Live-Demos, darunter von Experten geleitete Sitzungen zu AXI, AOI, SPI, Inspektionslösungen und -software, die im Voraus gebucht werden können
Vollständig integrierte Inspektions- und Automatisierungslösungen
Das leistungsstarke 3D-SPI-System VP01G von Omron ermöglicht eine vollständige und hochpräzise Messung der Lötpaste, einschließlich des Volumens. Es unterstützt Multi-Resolution-Zoom (bis zu ~5 µm) und ist über eine Closed-Loop-Schnittstelle mit Druckern und Bestückungssystemen verbunden. Für eine einheitliche Prozessoptimierung lässt sich das SPI-System in das Q-up-Toolset von Omron integrieren.
Diese fortschrittliche AOI-Plattform nutzt KI-gesteuerte Inspektionslogik und eine hauseigene Bildgebungstechnologie, um eine schnelle und wiederholbare Fehlererkennung in komplexen SMT-Baugruppen zu ermöglichen. Sie wurde entwickelt, um den hohen Qualitätsanforderungen der Automobil- und Elektronikfertigung gerecht zu werden.
Das Inline-CT-AXI-System VT-X750 von Omron ermöglicht eine hochauflösende 3D-Prüfung von Lötstellen einschließlich versteckter und komplexer Merkmale, die optisch nicht vollständig überprüft werden können. Seine kontinuierliche Bildgebungsarchitektur reduziert Scanzeiten erheblich und sorgt für einen stabilen Inline-Betrieb. OMRON ist in Halle A2, Stand 435, sowie am Stand des Fraunhofer-Instituts in Halle B2, Stand 539, zu finden.
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