Neue SMU für Halbleiter-Charakterisierung

Präzision, die Entwicklung beschleunigt

Mit der SMM3000X-Serie erweitert Siglent sein Portfolio um leistungsstarke Source-Measure-Units für Forschung & Entwicklung sowie die Halbleiter-Charakterisierung. Die Modelle SMM3311X (Single Channel) und SMM3312X (Dual Channel) ermöglichen präzise I-V-Analysen, Leakage-Messungen und Puls-Tests moderner Bauelemente – reproduzierbar, stabil und effizient.

Mit einer Auflösung von 10 fA / 100 nV, bis zu ±210 V und ±3 A DC (±10,5 A Puls) deckt die Serie sowohl empfindliche Low-Current-Anwendungen als auch anspruchsvolle Power-Device-Tests ab. Hohe Dynamik und schnelle Messraten unterstützen kurze Entwicklungszyklen und liefern belastbare Daten für fundierte Designentscheidungen.

Performance mit wirtschaftlicher Klarheit

Die SMM3000X-Serie vereint hochpräzise Messtechnik mit einer Investition, die sowohl aus technischer als auch aus wirtschaftlicher Sicht überzeugt. Im Zentrum steht die herausragende Leistungsfähigkeit, die gezielt für die Anforderungen moderner Entwicklungsprozesse entwickelt wurde.

Kurze Lieferzeiten, eine dreijährige Garantie sowie lokaler Service und Support aus Deutschland sorgen für zusätzliche Planungssicherheit und Zuverlässigkeit für europäische Teams.

Source. Measure. Master.

Für alle, die ihre Entwicklung, ihre Messprozesse und ihre Daten souverän beherrschen wollen.

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