Siglent stellt mit den Serien SDS5000X HD und SDS5000L die neuesten Mitglieder seines leistungsstarken Oszilloskop Portfolios vor. Diese neuen Oszilloskope mit bis zu acht Kanälen und einer Bandbreite von bis zu 1 GHz markieren einen wichtigen Meilenstein in Siglents Produkt-Strategie.
Dank hoher Abtastraten und dem standardmäßig tiefen Speicher bieten die Geräte detailgenaue Einblicke in komplexe Signalverläufe. In Kombination mit umfassenden Analyse-Tools sind die SDS5000X HD und SDS5000L darauf ausgelegt, den steigenden Anforderungen moderner Leistungselektronik, Embedded-Systemen und automatisierter Testanwendungen gerecht zu werden.
Skalierbar und flexible
Die SDS5000X HD-Modelle verfügen über ein großes, intuitiv bedienbares Touchdisplay und sind ideal für den Einsatz am Labortisch und für interaktive Debugging-Aufgaben geeignet. Die SDS5000L-Varianten hingegen sind für den Rack-Einbau und den automatisierten Testbetrieb optimiert, und daher ohne integriertes Display, aber mit vollständiger Fernsteuerbarkeit und platzsparendem Design.
Diese Angebote bieten Ingenieuren die Flexibilität, das passende Werkzeug für ihren Arbeitsablauf zu wählen, sei es im praxisorientierten F&E-Labor oder in einem vollautomatischen Validierungsaufbau. Ziel ist es, leistungsstarke, skalierbare Lösungen bereitzustellen, die mit der Komplexität moderner Testumgebungen mitwachsen.
Leistungsstarke Bannerspezifikationen
Die Serien SDS5000X HD und SDS5000L bieten die Leistung, die für anspruchsvolle Messaufgaben erforderlich ist. Mit Abtastraten von bis zu 5 GSa/s können schnelle Signalflanken mit hoher Präzision erfasst werden. Jeder Kanal unterstützt bis zu 500 Mpkte Speichertiefe (bei aktivierten acht Kanälen) und ermöglicht damit hochauflösende Langzeitaufzeichnung und ist damit ideal für die Analyse von Protokollsequenzen geeignet.
Im Viertelkanalmodus lässt sich eine Speichertiefe auf bis zu 2,5 Gpts pro Kanal erreichen, was eine detaillierte, lückenlose Signalanalyse über sehr lange Zeiträume hinweg erlaubt. Eine effektive Auflösung (ENOB) von bis zu 8,2 Bit bei 1 GHz sorgt für hervorragende Dynamik und Signalgenauigkeit, und das selbst bei maximaler Bandbreite.
In Kombination mit einem beeindruckend niedrigen Rauschpegel von nur 140 µVrms bei 1 GHz bieten die neuen Modelle eine außergewöhnlich klare und detailreiche Signaldarstellung, die entscheidend für präzises Debugging in empfindlichen Analog-, Leistungs- und Mixed-Signal-Anwendungen ist.
Fokus auf Mehrkanalanwendungen
Ein Acht-Kanal-Oszilloskop ermöglicht eine umfassende Analyse von Dreiphasen-Systemen, da alle Spannungs- und Stromsignale gleichzeitig erfasst werden können. Diese synchronisierte Erfassung gewährleistet eine präzise und zeitgleiche Messung der Signale und relevanten Parameter über alle Phasen hinweg. Entwickler können Phasenbeziehungen direkt beobachten und vergleichen, um Unregelmäßigkeiten zu erkennen und die Systemleistung zu überprüfen.
Durch die integrierte FFT-Funktion wird zudem eine detaillierte Analyse der Harmonischen von Dreiphasensystemen ermöglicht. Optional erhältliche Applikationssoftware erweitert den Funktionsumfang um Vektordiagramme zur Motordiagnose, Netzqualitätsbewertung, Ripple-Messung und Effizienzanalyse kompletter Systeme.
Darüber hinaus enthalten moderne elektronische Systeme zahlreiche Chips und Module, deren Initialisierung und Betrieb, zur Vermeidung von undefinierten Zuständen, exakt aufeinander abgestimmt sein müssen. Power-Up-Sequenztests stellen sicher, dass die Signale der verschiedenen Schaltungsmodule im korrekten Timing ablaufen. Das ist eine Grundvoraussetzung für Systemstabilität.
Fehlerhafte Einschaltreihenfolgen können zum Beispiel in Kommunikationssystemen zu Übertragungsfehlern führen. Mit zunehmender Komplexität steigen auch die Anforderungen an solche Tests. Das SDS5000X HD ermöglicht die Erfassung des gesamten Einschaltvorgangs aller relevanten Signale in einem einzigen Messvorgang. Das spart Zeit, erhöht die Effizienz und minimiert Fehler durch wiederholte Messläufe. Besonders bei komplexen Schaltungen mit bis zu acht Versorgungsschienen ist diese One-Shot-Messfähigkeit ein entscheidender Vorteil für die zuverlässige Validierung.
Präzise Messungen für SiC- und GaN-Leistungselektronik
Mit der Einführung von Siglents neuen Acht-Kanal-Oszilloskopen und der optisch isolierten Differenztastkopfserie ODP6000B wird eine entscheidende Lücke in der Messung von Wide-Bandgap-(WBG-)Halbleitern geschlossen. Das SDS5000X HD bietet Anstiegszeiten im Pikosekundenbereich und ermöglicht damit die präzise Erfassung des schnellen Schaltverhaltens von Siliziumkarbid- (SiC) und Galliumnitrid- (GaN) Bauelementen.
Es erlaubt eine detaillierte Analyse von Spannungs- und Stromtransienten während des Schaltvorgangs, einschließlich Überschwingern, Ringing und anderen dynamischen Effekten. Diese Fähigkeiten unterstützen Ingenieure bei der Optimierung von Schaltungsdesigns und der Sicherstellung der Signalintegrität in hocheffizienten Leistungsanwendungen.
Ergänzend dazu sind die ODP6000B-Tastköpfe mit Bandbreiten von 500 MHz und 1 GHz erhältlich und bieten ein außergewöhnliches Gleichtaktunterdrückungsverhältnis (CMRR) von 160 dB bei niedrigen Frequenzen – ein entscheidender Vorteil für genaue und rauscharme Messungen an modernen WBG-Bauelementen.
Fazit
Mit der Einführung der SDS5000X HD und SDS5000L Serien sowie der optisch isolierten ODP6000B-Tastköpfe bietet Siglent ein leistungsstarkes und skalierbares Messsystem, das den Anforderungen moderner Leistungselektronik und komplexer Embedded-Systeme gerecht wird.
Die Kombination aus hoher Kanalanzahl, exzellenter Signalqualität, tiefem Speicher und vielseitiger Analysefunktion ermöglicht präzise Einblicke in anspruchsvolle Anwendungen – von der dreiphasigen Leistungsanalyse über Power-Up-Sequenztests bis hin zur hochdynamischen Charakterisierung von Wide-Bandgap-Halbleitern. Ob im Labor oder im automatisierten Testsystem: Siglent liefert die Werkzeuge, um Effizienz, Genauigkeit und Zuverlässigkeit in der Entwicklung auf das nächste Level zu heben.
