Effizienz, Präzision und Reproduzierbarkeit sind in der industriellen Qualitätssicherung entscheidend, besonders bei funktions- oder sicherheitsrelevanten Komponenten wie zum Beispiel Kolbenringen. Mit dem AIT-Orbit-Glasdrehteller-Prüfsystem präsentieren wir eine leistungsstarke und wirtschaftliche Prüfanlage, die speziell für die vollautomatische beidseitige Inspektion flacher Bauteile entwickelt wurde.
Inline-Bahnwaren-Inspektion für maximale Prozesssicherheit
Die Inline-Inspektionslösung ermöglicht die 100-Prozentige-Qualitätskontrolle von Bahn- und Filtermaterialien direkt im laufenden Roll-to-Roll- und Coil-to-Coil-Prozess. Dank intelligenter Beleuchtungstechnologien und leistungsstarker Bildverarbeitung werden selbst kleinste Defekte wie Kratzer, Knicke, Pinholes oder Beschichtungsfehler zuverlässig erkannt. Die flexible, skalierbare Lösung lässt sich nahtlos in bestehende Anlagen integrieren und unterstützt Unternehmen dabei, Ausschuss zu reduzieren, Prozesse zu stabilisieren und die Produktqualität nachhaltig zu steigern.
Neues Framework für industrielle Bildverarbeitung
Bildverarbeitung, Sensorik, SPS, HMI und Produktionsprozesse laufen in einer zentralen, KI-gestützten Plattform zusammen. Damit schafft sie die Basis für effiziente, flexible und
zukunftssichere Prüfsysteme.
Automatisierte Mantel- und Bodenfläche-Prüfung
Ob Guss- oder Schmiedekolben: Neben klassischen Materialfehlern können im Fertigungsprozess funktionskritische Defekte entstehen, die aus Qualitätssicht nicht akzeptabel sind. Gerade an Mantel- und Bodenfläche wirken sich selbst kleinste Abweichungen unmittelbar auf Funktion, Lebensdauer und Performance des Kolbens aus. Ein neuartiger Beleuchtungsansatz liefert 2,5D-Informationen im µm-Bereich und sorgt selbst bei hoher Fertigungsvarianz für hervorragende Prüfergebnisse.
KI-gestützte Defekterkennung kritischer Funktionsflächen
Freuen Sie sich auf exklusive Einblicke in die Einsatzmöglichkeiten von AIT: Fernando Schneider stellt am 06. Oktober 2026, von 13:40 bis 14:20 Uhr, im Aussteller-Forum, Halle 6 die leistungsstarke Softwareumgebung sowie den gezielten Einsatz von KI-Methoden zur Defekterkennung auf kritischen Funktionsflächen vor. Erfahren Sie, wie sich topografische Defekte wie Kratzer, Poren, Schlagstellen oder Lunker prozesssicher erkennen, analysieren und klassifizieren lassen, bei minimalem Pseudofehleranteil. So gelingt eine praxistaugliche und robuste Lösung für die industrielle Qualitätssicherung. Kommen Sie vorbei und tauschen Sie sich mit Fernando Schneider aus.
AIT Goehner treffen Sie in Halle 6 / Stand 6223-
SIGMATEK.jpg "Intelligente Wissensplattform für effizienteres Engineering")
