Interview: „Der Blick ins Silo ist vorbei“ Radar-Füllstandmessung in Schüttgutprozessen Vor 4 Stunden Staub, Schüttkegel und wechselnde Materialeigenschaften bringen viele Messverfahren an ihre Grenzen. Jürgen Skowaisa ...
Interview: „Der Blick ins Silo ist vorbei“ Radar-Füllstandmessung in Schüttgutprozessen Vor 22 Stunden Staub, Schüttkegel und wechselnde Materialeigenschaften bringen viele Messverfahren an ihre Grenzen. Jürgen Skowaisa ...
Hitzewellen führen vermehrt zu Hardwaredefekten und Datenverlust Hitze im System, Daten weg 01.09.2026 Die jüngsten Hitzewellen haben sich deutlich im Auftragseingang von CBL Datenrettung bemerkbar gemacht: Bei 25 ...
Einsatzfähig von Wearable bis IoT-Gerät Schnittstelle löst fünf Herausforderungen an Embedded-Audio-Systeme 20.08.2026 Die Anforderungen an moderne Embedded-Audiosysteme steigen: Sie müssen flächenübergreifend in PCs, IoT-Systemen, ...
Memtransistor verbindet Datenspeicherung und -verarbeitung Ein Chamäleon für die nächste KI-Generation 14.08.2026 Forscher des KAIST haben einen programmierbaren, dynamischen Memtransistor entwickelt. Das Bauelement passt seine ...
Fluggeräte versorgten Gebiet von 20 km2 Größe Fliegende Funkantennen sorgen für unterbrechungsfreie Netzversorgung 06.08.2026 Die Deutsche Telekom hat erfolgreich demonstriert, wie sich Mobilfunk aus der Luft bereitstellen lässt: Zwei ...
Quanten-Spins machen Siliziumkarbid zum Maser Weltweit erster Halbleiter-Maser 06.08.2026 Physiker der Universität Würzburg und des Würzburg-Dresdner Exzellenzclusters ct.qmat haben den ersten ...
Neuer Standort bündelt Montage, Tests und Raumfahrt-Know-how Berlin baut am nächsten Kapitel der Raumfahrt 05.08.2026 Ob für die Navigation per Smartphone oder die Klimaforschung: Schnell verfügbare und präzise Satellitendaten ...
Vorgaben für Produkte mit digitalen Elementen CRA kommt: Sechs grundlegende Veränderungen für Hersteller 28.07.2026 Obwohl der Stichtag für den Cyber Resilience Act im Dezember 2027 liegt, greifen die ersten Pflichten tatsächlich ...
Halbleiteroberflächen einfacher und schneller untersuchen Halbleiteroberflächen unter der Lupe 23.07.2026 Forschende der Universität Heidelberg haben ein molekulares Modell für das sogenannte „buckled dimer“ entwickelt. ...
