GaN-on-GaN wird industriereif Vertikales GaN: Ein neuer Maßstab für Energieeffizienz und Leistungsdichte 03.11.2025 Onsemi hat eine neue Generation vertikaler GaN-Leistungshalbleiter vorgestellt. Die GaN-on-GaN-Technologie ermö ...
Weltleitmesse feiert Jubiläum 50 Jahre Productronica 24.10.2025 Vom 18. bis 21. November 2025 wird München Schauplatz eines Jubiläums: Die Productronica feiert ihr 50-jähriges ...
Aktivantennen werden kompakter und energieeffizienter Rekordwerte bei 70-nm-GaN-Technologie für Hochfrequenz-Satellitensysteme 10.09.2025 Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler am Fraunhofer IAF haben eine neuartige GaN-Transistortechnologie mit einer ...
Flexibel, leistungsstark und bereit für jede Testumgebung (Promotion) Multifunktionale Messtechnik – vom Labor bis zum automatisierten Testsystem 02.09.2025 Embedded-Systeme und Sensorik in E-Mobilität, Industrie- und Energiebereichen stellen höchste Ansprüche an die prä ...
Gericht entscheidet zugunsten von Patentschutz bei Halbleitern Infineon gewinnt gegen Innoscience 01.08.2025 Im Patentstreit zwischen Infineon und Innoscience hat das Landgericht München I eine klare Entscheidung getroffen. ...
Strahlende Lösung für ein hartnäckiges Problem UVC-Licht gegen multiresistente Keime: Neue LEDs erreichen Rekordwerte 23.07.2025 Das Ferdinand-Braun-Institut hat gemeinsam mit Partnern ultrakompakte Fern-UVC-LEDs entwickelt, die internationale ...
Effiziente HF-Lösungen für 6G Rekordwerte bei GaN-Transistoren für 6G-Mobilfunk erzielt 02.07.2025 Imec hat mit dem GaN-on-Si E-Mode MOSHEMT einen Transistor entwickelt, der Rekordwerte bei Wirkungsgrad und ...
Galliumnitrid trifft Silizium Neue Hybridchips versprechen Highspeed-Effizienz 25.06.2025 Ein Forschungsteam des MIT hat ein neuartiges Verfahren entwickelt, mit dem sich Galliumnitrid-Transistoren (GaN) ...
Präzise messen und zuverlässig entwickeln Skalierbare Messtechnik für komplexe Leistungs- und Embedded-Systeme 24.06.2025 Die rasante Transformation in Branchen wie der Automobilindustrie, der erneuerbaren Energie und der industriellen ...
Ergebnisse des CAM-Workshops Neue Ansätze für Fehler- und Materialdiagnostik bei Elektronik 04.06.2025 Das Fraunhofer IMWS hat seinen CAM-Workshop beendet. Auf der Tagung wurden Themen wie Defektlokalisierung und - ...
