Am Stand 576 in Halle A1 werden Keysight Experten die folgenden Demos vorstellen:
In-Circuit-Test und Handling von Leiterplatten
Der hochdichte In-Circuit-Test (ICT) Keysight i3070 Serie 7i E9988GL verfügt über die neuesten Quad-Density-Pin-Karten, die bis zu 5760 Testknoten auf engem Raum zur Verfügung stellen können. Dadurch können Hersteller die steigenden Testanforderungen für die Bestückung großer Leiterplatten (PCBA) wirtschaftlich erfüllen.
Das Medalist i3070 In-Circuit Test (ICT) System ist ein 19"-Rack-Handler für parallele In-Circuit-Tests an Leiterplatten, die auf Transportbändern durch den Handler geführt werden. Die Multifunktionalität des Handlers beruht auf der Tatsache, dass der modulare MFT 19 Konfigurationen mit einer Spur, zwei Spuren, einem Segment, zwei Segmenten, einem Schacht und zwei Schächten bietet, was eine Steigerung des Durchsatzes um das bis zu Vierfache im Vergleich zu einem Standard-Einspurtester ermöglicht.
Kombination von In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FCT)
Das Keysight i7090 Board Test System bietet den Kunden die Flexibilität, die Testabdeckung von ICT und FCT zu kombinieren und zu optimieren. Es bietet ein effizienteres Gleichgewicht zwischen Durchsatz und Testabdeckung und hilft den Kunden, die Testkosten zu verbessern.
Software zur Testautomatisierung
PLM-Ökosysteme (Product Life Cycle Management) sind das Rückgrat der Produktentwicklung, mit vielen miteinander verbundenen Systemen, die umfassende Tests zu einer Herausforderung machen. Eggplant zeichnet sich dadurch aus, dass es sich an verschiedene CAD-/PLM-Umgebungen anpasst, Rich- und Thin-Client-Tests mit Anpassungen umfassend automatisiert und uneingeschränktes Testen von 3D-Bewegtbildern und PLM-Funktionsbewertung ermöglicht. Keysight wird auch die PathWave Testautomatisierungssuite vorführen, die im Vergleich zu herkömmlichen Testautomatisierungs- und Analysewerkzeugen erhebliche Kosten- und Zeitvorteile bietet.
Big Data-Analytik
Durch die Kombination von Test- und Messkompetenz mit Data Science und Big Data Engineering bietet die PathWave Manufacturing Analytics-Plattform umsetzbare Erkenntnisse für jede Ebene des Unternehmens in der intelligenten Fabrik der Zukunft. Verbesserte Ausbeute, weniger Nachprüfungen und Handling sowie geringere Kosten durch schlechte Qualität dank fortschrittlicher Big Data-Analysen.
Digitale Konformitäts- und HF-Tests
Die neuen Oszilloskope der Infiniium UXR-B- und MXR-B-Serie bieten eine neue Dimension der Geschwindigkeit.
Besucher erfahren, wie sie mehrere Messparameter mit einer einzigen Verbindung erfassen können, einschließlich Rauschzahl, Fehlervektorgröße (EVM), Nachbarkanalleistungsverhältnis (ACPR) und Standard-S-Parameter.
Mehrkanalige SMU
Neu auf dem Keysight-Stand in diesem Jahr ist die neueste SMU-Lösung (Source Measurement Unit), die den wachsenden Anforderungen an die Standfläche gerecht wird. Die SMU-Lösung PZ2100 bietet Lösungen für Design, Test und Validierung.
Tests von IoT-Geräten
Das Keysight NB-IoT- und LTE-M-Signaltestgerät kann bei der Lösung von Testherausforderungen in der Fertigung helfen.
Labormessgeräte der nächsten Generation
Die Laborlösungen von Keysight bieten ein breites Spektrum an Stromversorgungs- und Messlösungen, von zuverlässigen TrueVolt-Digitalmultimetern und der MegaZoom-Technologie in InfiniiVision-Oszilloskopen und kompakten Mehrkanal-Stromversorgungen bis hin zu vielseitigen Datenerfassungssystemen mit Digitizern und Solid-State-Multiplexer-Modulen. Dazu gehören bewährte Lösungen, wie das 6,5-stellige Multimeter, oder die neueste Batterietest-, Profiler- und Emulationslösung von Keysight.
