Anritsu hat eine Dual-Wellenlängen-Messfunktion in seine optoelektronischen Kalibriermodule für die VectorStar-VNA-Familie integriert.

Bild: Anritsu

Kalibriermodule Exakte optoelektronische Messungen vornehmen

20.11.2015

Anritsu hat für seine MN4765B-Baureihe der optoelektronischen Kalibriermodule zwei neue Optionen entwickelt. Sie sollen helfen, eine hochpräzise, flexible und kosteneffiziente Lösung für die Charakterisierung optoelektronischer Bauelemente (Modulatoren, Photoreceiver und integrierte optischen Transceivermodule) zu schaffen.

Die Option 71 ermöglicht es dem optoelektronischen Kalibriermodul MN4765B zusammen mit dem VectorStar-VNA (Vektornetzwerkanalysator) für optoelektronische Messungen von 70 kHz bis 70 GHz im 1.310-nm-Bereich eingesetzt zu werden, während die Option 72 Messungen von 70 kHz bis 70 GHz im 1.310-nm- sowie im 1.550-nm-Bereich ermöglicht. Beide Optionen nutzen als Primärstandard eine NIST-charakterisierte Fotodiode. Im Vergleich zu alternativen Verfahren wird somit eine höhere Genauigkeit bei elektrooptischen und optoelektronischen Messungen erreicht, so der Anbieter.

Das Modul MN4765B bietet kombiniert mit dem Vektornetzwerkanalysator MS4640B, eine vereinfachte Herangehensweise an optoelektronische Messungen und stellt eine wirtschaftliche Alternative zu konventionellen Gesamtsystem-Konzepten dar. Die optischen Module MN4765B sind mit einer InGaAs-Fotodiode ausgestattet, die modulierte optische Signale in elektrische Signale umwandelt. Die Fotodiode besitzt einen außergewöhnlichen Frequenzgang bis 70 GHz. Zusätzlich ist eine weitere Beschaltung zur Temperatur- und Bias-Stabilität in den Modulen eingebaut.

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