Video: Neuer Test Contactor Erweiterung der neuen Y-RED-Generation

Die Vorteile des Y-RED werden in der ersten Folge der neuen TEC-TV-Serie vorgestellt.

11.03.2021

Die Produktreihe Y-RED bekommt Zuwachs. Neben der Evaluation und Validierung von IC-Chips stehen nun auch Anwendungen der Fehleranalyse und Labormessungen mit niedriger Induktivität im Fokus.

Mit langer Erfahrung in der Entwicklung von kundenspezifischen Test Contactoren, kombiniert der Y-RED hochwertige Technologie und standardisierte Elemente mit vereinfachter, benutzerfreundlicher Montagetechnik.

Als erstes Produkt der neuen Generation Y-RED wurde Ende 2019 der Standard-Test-Contactor für Anwendungen zur Bauteilqualifikation veröffentlicht. Nun folgen gleich mehrere Erweiterungen dieser Produktreihe.

Y-RED Failure Analysis

Während die bereits erhältliche Y-RED-Variante vor allem in der Evaluation und Validierung (EV) von Chips eingesetzt wird, ist der neue Test Contactor auf die sensorische Analyse von Fehlern (FA) spezialisiert. Durch eine Öffnung im Deckel ist nun die gesamte Komponente während des Testens sichtbar. Eine eingelegte kratzfeste und rissbeständige Glasplatte sorgt mit sehr weiter Transmissionskurve dabei für gleichmäßige Druckverteilung während der Kontaktierung. Diese Eigenschaften sind ideal um Chipuntersuchungen mit Solid Immersion Lens und Emission-Mikroskopie durchzuführen.

Erweiterte Größenvielfalt

Für das Testen von Komponenten der Abmessungen zwischen 1,5mm x 1,5mm und 5mm x 5mm ist außerdem sowohl beim Y-RED EV, also auch bei dem neuen FA-Test-Contactor eine kleinere Variante erhältlich. Durch deutlich kompaktere Bauweise kann nicht nur Bauraum auf dem Evaluation-Board/der PCB gespart werden, die Messung findet auch näher an der Komponente statt. Das Rastermaß startet bereits bei 0,3 mm, der Anwendungstemperaturbereich ist von -40°C bis +150°C spezifiziert. Bei Abmessungen größer 5 mm x 5 mm bis maximal 12 mm x 12 mm wird der große Formfaktor Y-RED verwendet.

Die Y-RED-Test-Contactoren sind sowohl für LGAs, QFNs als auch für BGAs / (WL)CSPs konzipiert.

Low-Inductance-Probe-Pin

Für Labormessungen mit Anforderungen besonders niedriger Induktivität ist außerdem ein Low-Inductance-Pin erhältlich. Dieser kann in alle vorgestellten Test Contactoren eingebaut werden, wodurch die hohe erreichbare Performance in diverse Anwendungsgebiete eingebracht und die verschiedenen Vorteile optimal kombiniert werden können.

Mit einer Kontakthöhe von lediglich 2,80 mm wird eine Selbstinduktivität von kleiner 0,80 nH erreicht. Es wird ein Rastermaß zwischen 0,3 mm und 0,5 mm umgesetzt. Der Anwendungstemperaturbereich liegt zwischen -40°C bis +125°C.

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