Quantensensorik basierend auf Stickstoffvakanz Schnelle magnetische Bildgebung mit diamantbasierter Quantensensorik

Das Weitfeld-Magnetometer des Fraunhofer IAF bietet einen einzigartigen Kompromiss aus Sensitivität, Auflösung und Geschwindigkeit.

Bild: Fraunhofer IAF
28.06.2023

Mikroskopische Bildgebung von Magnetfeldern, wie sie die Quantensensorik ermöglicht, erlaubt die Messung des einzigartigen magnetischen Fingerabdrucks von Objekten. Das öffnet in verschiedenen Branchen wie der Werkstoffprüfung oder Biomedizin die Tür für grundlegend neue Anwendungen. Das System einer innovativen Methode mit schnellen Kamerabildern, bietet einen einzigartigen Kompromiss aus Sensitivität, Auflösung und Geschwindigkeit.

Forschenden des Fraunhofer-Instituts für Angewandte Festkörperphysik IAF ist es gelungen, in einem weltweit einzigartigen Messaufbau das große Potenzial der Quantensensorik basierend auf Stickstoffvakanz-(NV-)Zentren zu nutzen. Das entwickelte Weitfeld-Magnetometer ermöglicht es, das magnetische Streufeld einer Probe schnell über einen großen Bereich zu messen.

Die hohe Messgenauigkeit zeichnet sich durch eine Auflösung bis in den Nanometerbereich aus und ist absolut quantifizierbar. Diese Messmethode eröffnet neue Wege in der Metrologie und eignet sich durch seine breite Anwendungsmöglichkeit, die von Stählen bis zu organischen Proben reicht, für verschiedene Branchen wie der (Nano-)Elektronik, den Materialwissenschaften oder der Biomedizin.

Quantum Sensing Hub stellt Weitfeld-Magnetometer vor

Das innovative Messsystem wurde im Zuge des Fraunhofer-Leitprojekts „QMag“ entwickelt, das zu gleichen Teilen durch die Fraunhofer-Gesellschaft und das Ministerium für Wirtschaft, Arbeit und Tourismus Baden-Württemberg gefördert wird. Im Zuge des Projekts hat sich in Freiburg im Breisgau eine konzentrierte Magnetometrie-Expertise und -Infrastruktur an den drei Instituten Fraunhofer IAF, IPM und IWM entwickelt, die gemeinsam den Quantum Sensing Hub Freiburg bilden.

Magnetometrie mit Diamant

Die Weitfeld-Magnetometrie basiert auf NV-Zentren in dünnen Diamantschichten und ist ein junger Ansatz in der Quantensensorik. Der am Fraunhofer IAF entwickelte Messaufbau nutzt einen Arbiträrsignalgenerator (AWG), der Mikrowellenstrahlung erzeugt und einen Laser sowie das Aufnahmezeitfenster einer Kamera nanosekundengenau auslöst. Durch verschiedene Messprotokolle wird dadurch eine hohe Flexibilität und Präzision der Messungen ermöglicht.

„Das Weitfeld-Magnetometer profitiert nicht nur von unserem verbesserten Aufbau, sondern auch von dem am Fraunhofer IAF entwickelten Wachstumsprozess für Diamantplatten, die wir als Sensor nutzen“, erklärt Dr. Jan Jeske, stellvertretender Geschäftsfeldleiter Quantenbauelemente am Fraunhofer IAF. Die am Institut gewachsenen Substrate basieren auf (100)-orientiertem, reinem, undotiertem Diamant vom Typ IIa mit einer Dicke von 500 μm und einer Fläche von 4 x 4 mm. Dieses Substrat wird mit einer dünnen Schicht überwachsen, in der die NV-Zentren für die Sensoranwendung probennah erzeugt werden.

Messvorteile des Weitfeld-Magnetometers

In der Materialwissenschaft werden experimentelle Methoden zur Charakterisierung polykristalliner Materialien eingesetzt, um ein mikroskopisches Verständnis des makroskopischen Materialverhaltens zu erhalten. Dadurch wird es möglich, Materialien besser zu verstehen und ihre Eigenschaften zu optimieren. Die gängigen Methoden sind dabei jedoch meist auf lange Messzeiten und große Versuchsanlagen angewiesen. Oft sind auch Vakuumbedingungen oder hochenergetische Teilchen notwendig, die sich nachteilig auf das Probenmaterial auswirken können.

Die Weitfeld-Magnetometrie auf der Basis von NV-Zentren ist eine alternative, nicht-invasive Methode, die bei Raumtemperatur arbeitet. Dadurch ergeben sich neue Möglichkeiten für Einblicke in die mikroskopische Magnetfeldverteilung, was ein großes Potential für Materialanalysen birgt. Das System ist nicht auf anorganische Materialproben beschränkt, sondern lässt sich durch seine vergleichsweise geringen Ansprüche an die Messumgebung auch an organischen Proben anwenden.

Diese Messeigenschaften, gepaart mit der hohen Messgeschwindigkeit der am Fraunhofer IAF entwickelten Methode, ermöglichen sogar komplexe Messungen wie Fluktuationen, Wechselfelder und Wechselstrom-(AC-)Messungen und ebnen den Weg für neuen Materialanalyseverfahren.

Verwandte Artikel