Parameter-Analysator Halbleiter 50 Prozent schneller testen

Das modulare, integrierte Keithley-4200A-SCS mit neuer Bedienoberfläche

02.08.2016

Das modulare, integrierte Keithley-4200A-SCS mit neuer Bedienoberfläche, integrierter Messexpertise und IV/CV-Schaltmodul von Tektronix ermöglicht eine schnellere und einfachere Charakterisierung.

Der integrierte Parameter-Analysator von Tektronix gibt einen schnellen Einblick in Halbleiter-Bauteile, Materialien und Prozesse und liefert eindeutige, genaue Ergebnisse. Dabei wird besonders für neue oder gelegentliche Anwender die Komplexität der Charakterisierung deutlich reduziert und die Testeinrichtung vereinfacht.

Das neue 4200A-SCS Instrument basiert auf dem Parameter-Analysator Keithley 4200-SCS und verfügt über eine neue grafische Bedienoberfläche und eine Reihe von integrierten Tools zum Selbstlernen. Das Ergebnis ist eine um bis zu 50 Prozent schnellere Testeinrichtung und eine deutlich einfachere und intuitivere Bedienung.

Um die Messungen in der Halbleiter-Forschung zu vereinfachen, stellt Tektronix das vierkanalige IV/CV-Schaltmodul Keithley 4200A-CVIV vor. Das Modul wird mit dem 4200A-SCS Grundgerät eingesetzt und erlaubt eine direkte Umschaltung zwischen SMU-Strom-Spannungs- (I-V) und Kapazität-Spannungs-Messungen (C-V). Der Anwender kann damit C-V-Messungen an jedem Bauteilanschluss durchführen, ohne Prober-Nadeln abheben oder Kabel umstecken zu müssen.

Durch ein hochauflösendes Breitbild-Display bietet der 4200A-SCS mehr Platz auf dem Bildschirm für interaktive Tests und Experimente. Das Display und eine neue grafische Benutzeroberfläche ermöglichen eine intuitive Bedienung aller gewohnten Funktionen. Die neue Bedienoberfläche umfasst auch Videos, welche die Kenntnisse der Anwendungsingenieure von Keithley zusammenfassen. Diese Videos verkürzen die Lernkurve der Anwender und unterstützen sie bei der Fehlersuche, wenn unerwartete Ergebnisse auftreten.

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