Seminar Ausfallursachen und Schäden bei elektronischen Baugruppen analysieren

Bild: Rainer Sturm/ pixelio.de, www.pixelio.de
19.01.2015

Das Ostbayerische Technologie-Transfer-Institut (OTTI) veranstaltet von 4. bis 5. Februar in Ingolstadt ein Seminar zum Thema „Ausfallursachen- und Schadensanalytik an elektronischen Baugruppen“. Das Seminar gibt laut OTTI eine Einführung in die Techniken der Schadensanalyse, zeigt typische Ursachen von Feldausfällen bei elektronischen Baugruppen und Strategien und analytisches Handwerkszeug zur Ausfallanalyse. Neben diesem theoretischen wird es auch einen praktischen Teil geben, in welchem in Arbeitsgruppe Schadensfälle bearbeitet werden. Die Leitung des Seminars übernimmt Dr. Helmut Schweigart. Er ist Leiter der Technologie-Entwicklung bei Zestron. Weitere Informationen zu diesem Seminar finden sie hier: http://www.otti.de

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